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Minitab助力Metalor改善金属质量，减少50％的工艺偏差

yuyuxi 2021-03-16 案例, 行业新闻 3,494 views

背景

瑞士的Metalor Technologies是贵金属和高级材料的国际领导者，是全球生产电子产品的公司以及医疗和电气设备制造商的供应商。Metalor在创造创新和可靠技术方面的技巧为公司赢得了首选供应商地位，并在全球范围内享有卓越的声誉。实际上，Metalor的专业知识已远远超出了其自身利益所能带来的好处，从而为许多合作伙伴创造了新的市场领域。在寻求创新解决方案时，Metalor依靠Minitab统计软件来帮助实现其过程工程目标。

挑战

在Metalor的产品中，有一种高纯度的银粉可用于制造各种微电子产品，从硅晶片上的太阳能电池金属化到柔性塑料上的薄膜触摸开关，应有尽有。粉末的两个特性-密度和表面积-对客户过程中的质量和性能至关重要。但是，这两个特性在生产中很难预测或控制。利用Minitab中的实验设计（DOE）工具以及其自身的一些DOE最佳实践，Metalor着手确定密度和表面积如何受到三个关键过程输入的影响：反应温度，铵水平和搅拌速率。他们的最终目标是：提高其银粉的质量。

Minitab如何提供帮助

一旦Metalor确定了其过程中的三个关键因素，便对其进行了分析，以确定它们对银粉产品的影响。在Minitab中进行完整的阶乘实验（每个输入只使用一个高和一个低设置），让Metalor可以有效地评估每个输入对目标两个输出变量的影响以及这些输入之间的交互作用。Minitab的功效和样本数量计算表明，他们需要复制完整的阶乘，以便获得检测对其过程重要的影响所需的统计功效。他们的Minitab分析产生了两个方程式，这些方程式用于生成重叠的轮廓图，该轮廓图显示了两种响应均是工艺条件的函数。该图帮助Metalor调整了工艺流程，以满足客户对粉末密度和表面积的要求。一旦实施了新的流程设置，Minitab的控制图就清楚地表明了改进流程的持续优势。

密度的主要影响图清楚地表明，Metalor测试的三个因素中的两个因素对粉末的密度具有更强的影响。

Minitab的DOE建模功能提供了重叠的等高线图，用于查找满足两种响应的规格所需的最佳工艺条件。

结果

银是昂贵的，因此减少实验是控制成本所必需的。尽管如此，Minitab还是帮助Metalor找到了解决方案，该解决方案将其工艺偏差减少了50％，并提高了银粉的质量。该解决方案已实施，并且随着时间的推移对该过程进行了监控。Minitab控制图说明了工艺变化的显着减少，从而导致了满足客户规格的更高质量的粉末。此外，这些改进将拒收的批次减少了75％，并使Metalor的银粉生产更加高效和具有成本效益。

Metalor的过程工程创新使该公司成为该行业的领导者-领导者相信Minitab是其质量改进工作的有效合作伙伴。